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(来源:上观新闻)
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“EIC测试与P😇IC测试对☹比表”—☠—对比测试原理🎗、对准精度🔁⛪、行业成熟度👫🍏、主要探针卡厂🌬🍏商四个维度,图源✊🇲🇸:Trend🇱🇮Force,下🇲🇺同 四个测试🇳🇺🏡阶段,最关键的是🔚哪一步? 一颗C🏦PO芯片从晶圆😣到系统🇲🇽,需要ℹ☂经历四个测试阶段🚸: 第一阶段:🛏🚫PIC晶圆🌯级测试(O🚴WAT)——直流🎑🛸电学与👩🚀📕光学基础测试,包🎰括光功率🍰、损耗、暗电流等基本光学参👨🦰🌖数测量🇳🇮。